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超越摩爾定律的關鍵:探究 3D 先進封裝技術的原理、挑戰與應用變革

  • 作家相片: Amiee
    Amiee
  • 2天前
  • 讀畢需時 7 分鐘

數十年來,半導體產業的發展幾乎遵循著摩爾定律的預言前進,也就是積體電路上可容納的電晶體數目,約每隔兩年便會增加一倍;然而,隨著物理極限的逼近,單純追求電晶體微縮變得越來越困難,成本也急遽升高。就在此時,一種被稱為「3D 先進封裝」的技術異軍突起,成為延續晶片性能增長、突破摩爾定律瓶頸的關鍵力量,尤其在人工智慧 (AI)、高效能運算 (HPC) 等領域掀起了一場寧靜的革命。


本文將帶您深入探索 3D 先進封裝的世界,從基礎概念、核心原理,到技術細節、製造挑戰,再到實際應用與未來展望,無論您是技術愛好者還是專業工程師,都能從中獲得有價值的洞見。



從 2.5D 到 3D:封裝技術的演進之路


在理解 3D 封裝之前,讓我們先釐清它與 2.5D 封裝的關係。傳統封裝是將單一晶片放置在基板上,再透過打線 (Wire Bonding) 連接;隨著晶片功能日益複雜,這種方式已難滿足高速、高頻寬的需求。


  • 2.5D 封裝: 可以想像成將多個不同功能的裸晶 (Die),像是處理器、記憶體等,並排放在一個稱為「中介層」(Interposer) 的矽基板上,裸晶之間透過中介層內部極細微的導線連接,再整體封裝到傳統基板上。這種方式大幅縮短了晶片間的距離,提升了傳輸速度和頻寬,像是把不同功能的零件精密地組裝在同一塊「高科技電路板」上。台積電的 CoWoS (Chip on Wafer on Substrate) 就是 2.5D 封裝的代表。

  • 3D 封裝: 更進一步,3D 封裝直接將多個裸晶垂直堆疊起來,如同建造高樓大廈一般。晶片之間不再只是水平連接,而是透過垂直的導通孔直接貫穿,實現更短的連接路徑、更高的整合密度和更低的功耗。這使得在有限的空間內可以整合更多功能和更高的效能。英特爾的 Foveros 和台積電的 SoIC (System on Integrated Chips) 屬於 3D 封裝範疇。


簡單來說,2.5D 是「平面擴展」,將晶片並排放置在中介層上;而 3D 則是「垂直整合」,將晶片直接堆疊起來。



核心原理深入解析:Chiplet、TSV 與混合鍵合


3D 先進封裝的實現,仰賴幾項關鍵技術的突破:


  • 小晶片 (Chiplet): 這是實現先進封裝的核心概念。傳統上,我們會將所有功能整合到一個巨大的單體晶片 (Monolithic Die) 上;然而,越大的晶片,製造良率越低,成本也越高。Chiplet 的概念是將不同功能(如 CPU 核心、I/O 單元、記憶體控制器)拆分成獨立的小晶片,各自使用最適合的製程技術製造(例如 CPU 用最先進的 5nm,I/O 可能用較成熟的 22nm),然後再透過先進封裝技術將這些 Chiplet 像樂高積木一樣組合起來。這種方式不僅可以提高良率、降低成本,還能靈活組合出不同規格的產品。

  • 矽穿孔 (TSV - Through-Silicon Via): 這是實現 3D 堆疊的關鍵垂直互連技術。想像一下,要在兩層樓板之間建立快速通道,TSV 就是在矽晶圓上蝕刻出微小的垂直孔洞,填充導電材料(通常是銅),形成貫穿晶片的電氣連接通道。這就像在堆疊的晶片之間打了許多微小的「電梯」,讓訊號可以直接、快速地在不同層級的晶片間傳輸,大幅縮短延遲、提高頻寬並降低功耗,是實現 HBM(高頻寬記憶體)堆疊的基礎。

  • 混合鍵合 (Hybrid Bonding): 這是比 TSV 更先進的直接連接技術,特別適用於需要極高密度互連的 3D 堆疊。傳統的堆疊方式(如 Micro Bump)需要在晶片間加入微小的焊料凸塊;而混合鍵合則是在室溫或較低溫度下,直接將晶片表面的銅對銅 (Copper-to-Copper) 和介電質對介電質 (Dielectric-to-Dielectric) 精密對準並鍵合在一起,無需任何中間介質。這可以實現遠小於 10 微米 (µm) 甚至達到次微米等級的連接間距 (Pitch),提供更高的互連密度和更好的電氣性能,是台積電 SoIC、英特爾 Foveros Direct 等技術的核心。



關鍵技術細節探討:材料、製程與挑戰


實現高密度、高效能的 3D 先進封裝,需要在材料選擇、製程控制等方面克服重重挑戰。


  • 中介層 (Interposer) 材料: 在 2.5D 封裝中,中介層扮演著連接不同 Chiplet 的橋樑。傳統上使用矽 (Si) 中介層,提供高密度佈線能力,但成本較高且可能存在訊號損失問題;有機 (Organic) 中介層成本較低,但佈線密度和散熱性能稍差;近年來,玻璃 (Glass) 中介層因其優異的電氣特性、尺寸穩定性和潛在的成本優勢而受到關注。

  • 散熱管理: 將多個發熱的晶片堆疊在一起,散熱成為極大的挑戰。熱量需要有效地從上層晶片傳導到底部散熱器。這需要開發新的高導熱介面材料 (TIM - Thermal Interface Material),優化散熱結構設計(如在晶片間加入微流道散熱通道),以及更精確的熱模擬分析。

  • 晶圓級製程 (Wafer-Level Processing): 為了提高效率和降低成本,許多先進封裝步驟都在晶圓層級完成,例如 TSV 的蝕刻與填充、晶圓對晶圓 (Wafer-to-Wafer) 或晶片對晶圓 (Chip-to-Wafer) 的鍵合。這需要極高的製程精度和潔淨度控制。





主流 3D/2.5D 先進封裝技術比較

技術平台

主要廠商

類型

關鍵技術

主要特點

目標應用

CoWoS

台積電

2.5D

矽中介層 (Si Interposer), Micro Bump

成熟穩定,高頻寬記憶體整合 (HBM)

AI 加速器, HPC, 網路

InFO

台積電

類 2.5D/扇出型

RDL (Redistribution Layer), 無中介層

成本效益較高,輕薄短小

行動處理器 (AP)

SoIC

台積電

3D

混合鍵合 (Hybrid Bonding), 無凸塊 (Bumpless)

極高互連密度,短距離高速傳輸

HPC, 行動裝置

EMIB

英特爾

2.5D

嵌入式多晶片互連橋接 (Embedded Bridge)

無需大型矽中介層,設計靈活

CPU, FPGA, AI

Foveros

英特爾

3D

Micro Bump / Hybrid Bonding (Foveros Direct)

異質晶片垂直整合,低功耗

CPU, GPU, AI

I-Cube

三星

2.5D

矽中介層

類似 CoWoS,整合 HBM

HPC, AI, 網路

X-Cube

三星

3D

TSV, Micro Bump

記憶體與邏輯晶片垂直堆疊

HPC, 行動裝置

注意:上表為簡化比較,各技術平台仍在持續演進中。



製造挑戰與前沿研究:克服良率、成本與散熱瓶頸


儘管 3D 先進封裝前景看好,但其大規模量產仍面臨諸多挑戰:


  • 良率控制: 堆疊的晶片越多,製程步驟越複雜,累積的缺陷風險就越高。單一 Chiplet 的缺陷可能導致整個封裝體失效,因此「已知良好晶片」(KGD - Known Good Die) 的測試篩選至關重要。

  • 成本考量: TSV、混合鍵合等製程成本高昂,加上複雜的測試和組裝流程,使得先進封裝的成本遠高於傳統封裝。降低成本是普及化的關鍵。

  • 散熱極限: 隨著堆疊層數增加和功耗密度提升,如何將熱量快速有效地導出,是決定效能能否充分發揮的瓶頸。需要創新的散熱材料和結構設計。

  • 標準化需求: Chiplet 生態系的成功,需要不同廠商的 Chiplet 能夠互通互聯。通用 Chiplet 互連標準 (UCIe - Universal Chiplet Interconnect Express) 的出現,就是為了建立統一的介面規範,降低整合難度,促進產業發展。

  • 前沿研究: 學界和業界正積極探索更細微的互連技術、更有效的散熱方案(如液冷、浸沒式冷卻)、晶圓對晶圓直接鍵合的優化,以及光學互連 (Optical I/O) 在封裝層級的應用潛力。



應用場景爆發:AI、HPC 與更多可能


3D 先進封裝的優勢,使其在對效能、頻寬和功耗有極高要求的領域大放異彩:


  • AI 加速器與 HPC: 這是目前最主要也最成功的應用場景。透過 2.5D/3D 封裝將高效能處理器與多層堆疊的高頻寬記憶體 (HBM) 緊密整合,大幅突破了傳統記憶體頻寬的瓶頸,滿足了大型 AI 模型訓練和複雜科學計算對數據吞吐量的龐大需求。幾乎所有頂級的 AI GPU 和 HPC 處理器都採用了這類技術。

  • CPU/GPU 整合: 將 CPU 核心、GPU 核心、快取記憶體等不同功能的 Chiplet 透過 3D 封裝堆疊,可以在更小的面積內實現更高的效能和更佳的能源效率,應用於高階筆記型電腦、伺服器等。

  • 網路與通訊: 交換器、路由器等網路設備需要處理龐大的數據流量,先進封裝有助於整合高速 SerDes、處理單元和記憶體,提升處理能力和頻寬密度。

  • 行動裝置與邊緣運算: 雖然成本仍是考量,但 3D 封裝的低功耗和小體積優勢,使其在未來高階智慧手機、AR/VR 設備和邊緣 AI 裝置中具有應用潛力。



未來發展趨勢:異質整合的無限想像


展望未來,3D 先進封裝將持續朝著更高密度、更高效能、更低功耗的方向演進。混合鍵合技術的成熟將推動連接間距進一步縮小;Chiplet 生態系在 UCIe 等標準的助推下將更加蓬勃發展,帶來更多樣化、客製化的晶片組合。


更令人興奮的是「異質整合」(Heterogeneous Integration) 的深化,不僅是將不同製程的數位邏輯、記憶體整合在一起,未來更有可能將感測器、射頻元件、甚至光學元件都透過 3D 封裝技術整合到單一封裝體中,創造出功能更強大、應用更多元的系統級封裝 (SiP - System in Package)。這將徹底打破傳統晶片設計的界限,開啟一個充滿無限可能的半導體新時代。



結論


3D 先進封裝技術不僅是對摩爾定律趨緩的回應,更是半導體產業發展的必然趨勢。它透過 Chiplet 的靈活組合、TSV 的垂直高速通道以及混合鍵合的超高密度連接,成功突破了傳統封裝的限制,為 AI、HPC 等關鍵領域帶來了革命性的效能提升。


雖然在良率、成本和散熱方面仍有挑戰需要克服,但隨著技術的不斷進步和標準化的推進,3D 先進封裝無疑將在未來數年扮演越來越重要的角色。對於技術愛好者而言,理解其基本原理有助於把握科技發展的脈動;對於專業人士來說,掌握其技術細節與挑戰,則是引領下一代晶片創新的關鍵。3D 先進封裝正在引領我們走向一個超越摩爾定律的、更加整合和高效的運算未來。

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